KEPLER เครื่องทดสอบความขรุขระพื้นผิว KR-200

คุณสมบัติของ KEPLER เครื่องทดสอบความขรุขระพื้นผิว KR-200

• ความเที่ยงตรงและความละเอียดในการแสดงผลสูงถึง 0.001µm
• ได้รับการรับรองมาตรฐาน ISO, DIN, ANSI, JIS
• มีพารามิเตอร์ให้เลือกในการวัดมากถึง 13 ค่า คือ Ra, Rz, Ry, Rq, Rt, Rp, Rmax, Rm, R3z, S. Sm, Sk และ tp
• ย่านการวัด Ra, Rq : 0.005~16 µm
• ย่านการวัด Rz, Ry. Rp. Rt. R3z, Rm : 0.02-160 µm
• ย่านการวัด S, Sm : 1 mm และย่านการวัด Sk, Tp : 0~100%
• มีฟังก์ชันปรับเทียบอัตโนมัติเพื่อให้ได้ผลการวัดที่แม่นยำ
• มีพอร์ท RS232 สำหรับเชื่อมต่อกับเครื่องพิมพ์รุ่น KP-230 หรือเชื่อมต่อกับโปรแกรม
• เพื่อทำรายงานผลการตรวจวัด
•  

ข้อมูลเชิงเทคนิค KEPLER เครื่องทดสอบความขรุขระพื้นผิว KR-200

• Roughness parameters : Ra, Rz, Ry, Rq, Rt, Rp, Rmax, Rv, R3z, RS, RSm, RSk, Rmr
• Assessed profiles : Roughness profile (R) / Primary profile (P)
• Measuring system : Metric, imperial
• Display resolution : 0.001µm
• Data output : RS232
• Pickup measuring range : ±20µm / ±40µm / ±80µm
• Cutoff length (L) : 0.25mm / 0.8mm / 2.5mm / Auto
• Evaluation length : 1~5L (selectable)
• Tracing length : 3-7L (selectable)
• Digital filter : RC, PC-RC, Gauss, D-P
• Tracing length : Max. : 17.5mm/0.71inch, Min. : 1.3mm/0.052inch
• Pick-up : Standard pickup TS100, inductive, diamond stylus radius 5um, angle of stylus 90°
• Accuracy : ≤±10% / Repeatability ≤6%
• Power : Li-ion battery rechargeable
• Included Accessories : Main unit, TS100 standard pickup, Specimen Ra, Charger, Protection nose, Steel support,
• Dataview, Communication cable, Certificate, Warranty card, Instruction manual
• Optional Accessories : TS110 pickup for curved surface, TS120 pickup for small holes, TS130 pickup for deep grooves, TS140 right-angled pickup, Measuring platform K620, Leveling table K630/K631, Magnetic stand, Steel adapter (8), Steel adapter (L-attachment), Printer KP-230