KR-3230 KEPLER 表面粗糙度测试仪

KEPLER 表面粗糙度测试仪 (Surface Roughness Tester) 型号 KR-3230 产品详情

• 配备大尺寸 TFT LCD 显示屏，显示测量数据和图形
• 符合 ISO1997、ANSI 和 JIS2001 标准制造
• 可测量表面粗糙度参数、波纹度和主要轮廓共 55 种值
• 截止长度：0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8.0mm
• 支持带滑块或不带滑块的测量方式
• 高精度 ≤±5%
• USB 和 RS232 接口用于数据分析和管理
• 可连接打印机打印测量数据和图形（选配）
• 支持带滑块或不带滑块的测量方式
• 使用可充电 Li-Ion 电池

KEPLER 表面粗糙度测试仪 (Surface Roughness Tester) 型号 KR-3230 技术参数

• 测量范围：X 轴范围 - 40mm / Z 轴 - 最大 800µm
• 原理：电感式
• 分辨率：50µm 范围内为 0.001µm / 800µm 范围内为 0.016µm
• 测针角度：60° / 2µm，90 / 5µm（可选）
• 测量力：0.75mN / 4mN
• 曲率半径：40mm
• 方法：带滑块或不带滑块的测量方式
• 连接：内置驱动单元
• 测量速度：0.15mm/s，0.5mm/s，1mm/s
• 驱动速度：2mm/s
• 直线度：0.8µm / 50mm
• 倾斜调整范围：-4.5° ~+1.5°
• 高度调节：50mm
• 预设标准：ISO1997 / ANSI / JIS2001
• 参数：R : Ra, Rp, Rv, Rt, Rz, Rq, Rsk, Rku, Rc, RS, RSm, Rlo, RHSC, Rpc, Rmr(c), RzJIS, R3y, R3z
  W : Wa, Wp, Wv, Wt, Wz, Wq, Wsk, Wku, Wc, WS, WSm, Wlo, WHSC, Wpc, Wmr(c), WzJIS
  P : Pa, Pp, Pv, Pt, Pz, Pq, Psk, Pku, Pc, PS, PSm, Plo, PHSC, Ppc, Pmr(c), PzJIS
  Rk : Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2
• 滤波器：2CR / PC75 / 高斯滤波器
• 截止长度：0.08mm / 0.25mm / 0.8mm / 2.5mm / 8.0mm
• 采样次数：1~5 次的截止长度
• 公差：≤±5%
• 重复性：≤±3%
• 内置存储：10 组
• 打印：附带微型打印机，用于现场打印
• 语言：中文和英文，如有需要可添加其他语言
• 电源：Li-Ion 电池，4 小时充满电
• 通信接口：USB 和 RS232