KEPLER 光学粗糙度测试仪 型号 KR-200

KEPLER KR-200 表面粗糙度测试仪特性

• 高达0.001µm的高精度和分辨率显示
• 符合ISO、DIN、ANSI、JIS标准认证
• 提供多达13种测量参数，包括Ra, Rz, Ry, Rq, Rt, Rp, Rmax, Rm, R3z, S. Sm, Sk 和 tp
• Ra, Rq 测量范围：0.005~16 µm
• Rz, Ry. Rp. Rt. R3z, Rm 测量范围：0.02-160 µm
• S, Sm 测量范围：1 mm，Sk, Tp 测量范围：0~100%
• 具有自动校准功能以确保测量精度
• 配备RS232端口，可连接KP-230打印机或程序
• 用于生成检测报告
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KEPLER KR-200 表面粗糙度测试仪技术规格

• 粗糙度参数：Ra, Rz, Ry, Rq, Rt, Rp, Rmax, Rv, R3z, RS, RSm, RSk, Rmr
• 评估轮廓：粗糙度轮廓（R）/ 主要轮廓（P）
• 测量系统：公制，英制
• 显示分辨率：0.001µm
• 数据输出：RS232
• 拾取测量范围：±20µm / ±40µm / ±80µm
• 截止长度（L）：0.25mm / 0.8mm / 2.5mm / 自动
• 评估长度：1~5L（可选）
• 跟踪长度：3-7L（可选）
• 数字滤波器：RC, PC-RC, Gauss, D-P
• 跟踪长度：最大值：17.5mm/0.71inch，最小值：1.3mm/0.052inch