涂层厚度测量仪 KC-510E KEPLER

KC-510E KEPLER 涂层厚度测量仪 Coating Thickness Gauge

KC-510E KEPLER 涂层厚度测量仪 Coating Thickness Gauge 适用于各种场合，无论是工厂内部还是现场使用。支持铁基和非铁基涂层的测量，具体取决于使用的探头类型。具有高精度分辨率，并配备易于查看读数的显示屏，最多可记录500个数据值。

• 可以测量铁基和非铁基涂层（根据探针类型）
• 测量范围 0~1250 um（取决于探针类型），使用F10探针时最高可达10000 um（10 mm）（需额外订购）
• 显示分辨率 0.1 nm
• 高精度 +2%H+1um
• 大容量内存，最多可存储500个数据值
• 具有单次测量和连续测量模式
• 可以显示五种统计信息：MEAN, MAX, MIN, NO, 和 S.DEV，并且可以设置高限报警、低限报警
• 探头与主机分离设计
• 适用于有限空间，耐用性强
• 提供多种探针供选择，涵盖所有应用场景：F1. F1/90. F10. N1. N1/90, N10

KC-510E KEPLER 涂层厚度测量仪 Coating Thickness Gauge 技术参数