ETG12N1 微米涡流数字漆膜测厚仪

ETG12N1 Mikrometry：涡流数字漆膜测厚仪详情

• 非常紧凑的尺寸，内置探头
• 采用涡流法（ISO 2360、ASTM D7091），用于测量非导电涂层在非磁性金属基材上的厚度。
• 数据存储最多可达500个读数。
• 无需校准即可立即进行测量。
• 轻松执行零点修正，为形状和基材材料变化较小的测量应用提供正确的测量结果。
• 一点校准功能允许在严重形状或基材材料变化的情况下进行调整，并且能够在选定的测量范围内实现高精度测量。
• 统计功能允许对一系列测量数据进行评估并显示最重要的特征统计值。