涂层厚度测量仪 KC-2605 F1 KEPLER

KC-2605 F1 KEPLER 涂层厚度测量仪 (Coating Thickness Gauge) 产品详情

KC-2605 F1 KEPLER 涂层厚度测量仪 (Coating Thickness Gauge)，可选择不同类型的探头来测量铁基和非铁基涂层，支持单次测量和连续测量模式，并具有极高的精度。

• 可以测量铁基和非铁基涂层的厚度（取决于探头类型）
• 广泛的测量范围 0~10000 um（取决于探头类型）
• 高精度 ±(1%H+1)
• 提供多种类型的探头，适用于各种应用场合
• 内置高效打印机，可打印测量结果
• 分离式探头设计，适合在有限空间内使用，并且耐用性强
• 支持零点校准和两点校准
• 可以进行单次测量或连续测量
• 显示五种统计值：平均值、最大值、最小值、标准偏差、测量次数
• 大容量内存，可存储10000个数据值
• 支持设置高限报警和低限报警
• 不使用时自动关机

KC-2605 F1 KEPLER 涂层厚度测量仪 (Coating Thickness Gauge) 尺寸与重量

• 尺寸：203x92x52 mm
• 重量：400 g