KEPLER 光学粗糙度检测仪 型号 KR-3233

KEPLER 表面粗糙度测试仪 (Surface Roughness Tester) 型号 KR-3233 产品详情

• 配备大尺寸 TFT LCD 显示屏，显示测量数据和图形
• 符合 ISO1997、ANSI 和 JIS2001 标准制造
• 可测量表面粗糙度参数、波纹度和主要轮廓共 55 种值
• 测量范围宽达 1000µm，高精度为 0.001µm (KR-3233)
• 截止长度：0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8.0mm
• 支持带滑块或无滑块的测量系统
• 高精度 ≤±5%
• 可设定最小至 1.5 mm 的窄区域测量距离 (KR-3231, KR-3233)
• USB 和 RS232 接口，用于数据分析和管理
• 连接打印机以打印测量数据和图形（可选）
• 支持带滑块或无滑块的测量系统
• 使用可充电的 Li-Ion 电池

KEPLER 表面粗糙度测试仪 (Surface Roughness Tester) 型号 KR-3233 技术参数

• 测量范围：X 轴范围 - 50mm / Z 轴范围 - 最大 1000µm
• 原理：电感式
• 分辨率：50µm 范围内为 0.001µm / 800µm 范围内为 0.016µm
• 测针尖端角度：60° / 2µm, 90 / 5µm 可选
• 测量力：0.75mN / 4mN
• 曲率半径：40mm
• 方法：带滑块或无滑块
• 连接方式：分离驱动单元
• 测量速度：0.15mm/s, 0.5mm/s, 1mm/s
• 驱动速度：2mm/s
• 直线度：0.8µm / 50mm
• 倾斜调整：灵活
• 高度调节：灵活
• 预设标准：ISO1997 / ANSI / JIS2001
• 参数：R : Ra, Rp, Rv, Rt, Rz, Rq, Rsk, Rku, Rc, RS, RSm, Rlo, RHSC, Rpc, Rmr(c), RzJIS, R3y, R3z
  W : Wa, Wp, Wv, Wt, Wz, Wq, Wsk, Wku, Wc, WS, WSm, Wlo, WHSC, Wpc, Wmr(c), WzJIS
  P : Pa, Pp, Pv, Pt, Pz, Pq, Psk, Pku, Pc, PS, PSm, Plo, PHSC, Ppc, Pmr(c), PzJIS
  Rk : Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2
• 滤波器：2CR / PC75 / 高斯滤波器
• 截止长度：0.08mm / 0.25mm / 0.8mm / 2.5mm / 8.0mm
• 样本数量：1~5 倍的截止长度
• 公差：≤±5%
• 重复性： ≤±3%
• 内置存储：10 组
• 打印：附带微型打印机，用于现场打印
• 语言：中文和英文，如有需要可添加其他语言
• 电源：Li-电池，4 小时充满电
• 通信接口：USB 和 RS232